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山田光學 YP-150I 異物檢查燈技術原理
發布時間： 2025-07-10 點擊次數： 198次YP-150I 是日本山田光學工業推出的一款高亮度鹵素光源裝置，主要用于半導體晶圓、液晶基板等材料表面缺陷的宏觀觀察與檢測。該設備采用高色溫鹵素燈作為光源，配合冷鏡反射系統，可提供超過 400,000 lux 的高照度照明，照射范圍為 φ30mm。其核心優勢在于：- 高亮度與均勻性：鹵素燈色溫高達 3400K，光線穩定銳利，照度分布均勻，有助于識別微小異物、劃痕、拋光不均等缺陷。
- 低熱影響：采用冷鏡技術，將熱輻射降低至傳統鋁鏡的 1/3，減少對被測樣品的熱損傷。
- 雙照度模式：具備高照度與低照度兩種觀察模式，用戶可根據檢測需求一鍵切換，提升操作靈活性。
YP-150I 適用于半導體加工、玻璃表面檢測等精密制造領域，是一種可靠、實用的目視檢查輔助工具。
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